专利摘要显示，本实用新型涉及芯片测试技术领域，公开了一种芯片测试用可调式探针支架，包括底座，所述底座的上表面开设有滑动槽，所述滑动槽的内部设置有驱动螺杆，所述驱动螺杆上安装有活动立柱，所述活动立柱上设置有升…...
