OTSUKA 大塚电子 SM-100S 智能薄膜测厚仪 工业单层透明薄膜快速无损测厚仪器
OTSUKA 大塚电子 SM-100S 智能薄膜测厚仪 工业单层透明薄膜快速无损测厚仪器
OTSUKA 大塚电子 SM-100S 智能薄膜测厚仪 工业单层透明薄膜快速无损测厚仪器
薄膜量产企业在日常来料检验、成品抽检时，需要一款操作简单、稳定可靠的现场膜厚检测设备。OTSUKA 大塚电子 SM-100S 智能薄膜测厚仪，基于光谱干涉原理，手持式便携设计，专为常规单层透明薄膜快速无损测厚开发，兼顾实验室研发与产线现场抽检，北崎代理，支持样品测试，提供原厂技术支持。
SM-100S 为标准通用机型，专注单层薄膜检测，可测量 0.1~50μm 单层膜厚，设备轻巧便携，重量约 1.1kg，可直接携带至产线，快速完成多点抽检。非接触光学测量，不会划伤 PET 保护膜、单层涂布膜、偏光片等柔性基材，避免样品损毁造成损耗。
设备操作简单，产线操作人员经过简短培训即可独立完成测试。实时显示厚度数值与光谱曲线，检测数据自动记录，支持 U 盘导出批量报表，方便批次对比、质量追溯。设备维护简单，光学探头耐用，长期连续使用稳定性好，平衡检测性能与采购成本，适合薄膜生产企业质检部门常态化使用。
适用于包装薄膜、单层光学基材、普通涂布薄膜、保护膜等试样。北崎可接收薄膜样品预测试，评估测量效果，配套原厂技术支持，提供参数调试、设备操作指导，满足单层薄膜日常厚度检测需求。
